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SuperViewW非接觸式表面粗糙度光學輪廓儀以白光干涉技術為原理，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

SuperViewW光學三維表面輪廓形貌儀能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。

SuperViewW光學表面三維形貌輪廓測量儀以白光干涉技術原理，用于對各種精密器件表面進行納米級測量。通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

中圖光學3D表面形貌輪廓儀SuperViewW1基于白光干涉原理，以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領域中。

中圖儀器SuperViewW1白光三維輪廓測量儀由照明光源系統(tǒng)，光學成像系統(tǒng)，垂直掃描系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)構成。雙通道氣浮隔振系統(tǒng)設計，既可以接入客戶現(xiàn)場的穩(wěn)定氣源也可以采用便攜加壓裝置直接加壓充氣。

中圖儀器SuperViewW1輪廓尺寸測量儀器設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能。它能以3D非接觸方式，測量分析樣品表面形貌的關鍵參數(shù)和尺寸。